Микроскопы

Ультразвуковой сканирующий микроскоп USM300

USM300 — это высокоскоростной ультразвуковой сканирующий микроскоп, предназначенный для неразрушающего контроля (NDT) внутренних дефектов материалов и качества сварных соединений. Установка обеспечивает сканирование со скоростью до 1000 мм/с и ускорением 8 м/с², что делает ее оптимальным решением для массового контроля качества полупроводников, интегральных схем, алмазов и других прецизионных компонентов.